Расчет и исследование динамики систем управления оптико-электронными приборами

46 реализуется схемой на рис . 1.20, б , тогда согласно (1.39) получим : R 1 = T 2 / С 1 = 0,158/10 –6 = 158 кОм ; К 1 = R 32 /( R 31 + R 32 ) = 0,0316; R 1 = T 3 /( С 1 – Т 3 / R 31 ) = 0,005(10 –6 – 0,005/158000) = 5,163 кОм ; К у 3 = 31,64. 4. Корректирующее звено К з 4 с ПФ : п 2 4 3 1 0,025 1 ( ) 1 0,005 1 k T p p W p T p p + + = = + + реализуется схемой на рис . 1.20, б , тогда согласно (1.39) получим : R 1 = T п 2 / С 1 = 0,025/10 –6 = 25 кОм ; К 4 = R 32 /( R 31 + R 32 ) = 0,112; R 2 = T 3 /( С 1 – Т 3 / R 41 ) = 0,005(10 –6 – 0,005/25000) = 4 кОм ; К у 4 = 82,8. Результаты сведем в табл . 1.3. Таблица 1.3 Результаты расчета К 3 i R i 1 , кОм R i 2 , кОм С 1 , мкФ К у i К 31 200 594 1 1 К 32 158 636 1 1 К 33 158 5,163 1 31,64 К 34 25 4 1 82,8 Контрольные вопросы 1. Постройте структурные схемы , приведенные на рис . 1.4 и 1.5. 2. Изобразите АФЧХ , Л AX, ЛФХ интегратора , апериодическо - го , колебательного , дифференцирующего и форсирующего звеньев . 3. Приведите методику построения Л AX и ЛФХ . 4. Сформулируйте критерий устойчивости Михайлова . 5. Сформулируйте критерий устойчивости Найквиста . 6. Сформулируйте логарифмический критерий устойчивости . 7. Методика исследования устойчивости методом D - разбие - ния . 8. Синтез корректирующих устройств методом ЛАХ .