Теория и методы измерений

81 Под структурной ИИ понимается включение в измеритель- ную систему дополнительных СИ, измеряющих одну и ту же физи- ческую величину. Пусть выполняются два измерения одной и той же ФВ двумя однотипными СИ, причем в результирующей погрешности результа- та измерения доминирует систематическая составляющая, для ко- торой установлены допускаемые граничные значения. Имеем результаты измерений x 1 и x 2 и погрешности  x 1 и  x 2 , где x ист = x 1 +  x 1 ; x ист = x 2 +  x 2 ; 1 2 1 ср ист 2 2 x x x x x x        . Средний результат характеризуется наименьшей погрешностью. Метод структурной ИИ позволяет уменьшить в первую оче- редь систематическую погрешность измерений. Наиболее целесо- образно его применение при аттестации и градуировке измеритель- ных устройств. Пример . Несколько средств измерения определенной ФВ клас- са точности 0,06 могут образовать измерительную систему класса точности 0,02 и 0,03. Практическое применение метода структурной ИИ осложняет- ся трудностью априорной оценки возможного повышения точности результатов измерений. При использовании нескольких СИ для измерения одной и той же ФВ по закону 1 n уменьшается не результирующая погрешность, а отклонение от математического ожидания, которое, строго говоря, остается неизвестным. 4.3. Тестовые методы повышения точности измерений К структурным методам повышения точности относятся тес- товые методы (ТМ).