Оптические материалы и технологии

покрытия со спектральной кривой, наиболее близкой к заданной. Подобные расчеты часто требуют значительных затрат машинно­ го времени, однако был предложен критерий, гарантирующий по­ иск глобального минимума, а именно - оптимальный шаг перебо­ ра. Недостатком же является то, что для оценки оптимального шага перебора используется общий математический подход, согласно которому глобальный минимум функции качества завися­ щей от N переменных, может быть найден с заданной погрешнос­ тью £ , если осуш1ествлять перебор по каждой переменной с шагом: / 2s ' f3.52> где с I = max 5Ф, dh, имеет смысл константы Липшица. Прямая про­ порциональная зависимость hj ~ s в выражении (3.52) приводит к использованию неоправданно заниженных значений шага перебо­ ра, что, как отмечалось, суш1ественно увеличивает время счета. Следует отметить, однако, что, как правило, известные конст­ рукции обеспечивают требуемые характеристики лишь для нормаль­ ного падения на них излучения. Между тем во многих применениях (в частности, в спектроскопических задачах и лазерной технике) приходится использовать многослойники при наклонном падении света. Применение многослойных покрытий в этом случае связано с некоторыми особенностями, обусловленными анизотропией ко­ эффициентов отражения (пропускания) и сдвигов фаз для s- и р-по- ляризаций даже для строго изотропных отдельных слоев покрытия. Появление анизотропии усложняет решение задач синтеза многослойных интерференционных покрытий, но не меняет корен­ ным образом подхода к решению. Наклонное падение излучения не меняет сути проводимых расчетов, но вносит значительное ус­ ложнение в их проведение. Еш[е большим усложнением следует считать случай сходяш,егося (расходяш,егося) пучка излучения. В практически важных задачах это требование встречается посто­ янно. Для проведения расчета интерференционных покрытий схо­ 346