Оптические материалы и технологии

дящийся пучок представляется бесконечной суммой плоских волн и расчет проходит обычным методом, включающим интегрирова­ ние по углам на заключительном этапе. Проведение расчета прин­ ципиально несложно, но чрезвычайно громоздко. В конкретных случаях дело упрощается при использовании физического смысла строящегося интерференционного покрытия, что приводитк ряду существенных упрощений. Сегодня, благодаря развитию вычислительной техники и раз­ работке многих новых программ для проведения расчетов, задачи синтеза интерференционных покрытий перешли в область обычных инженерных решений. Затрачиваемое на решение задач машинное время невелико при достигнутой производительности персональ­ ных компьютеров. Основной решаемой сегодня задачей является задача оптимизации, т.е. подгонка параметров многослойной ин­ терференционной системы под заданные спектральные свойства. Эти задачи требуют учета уже достаточно тонких эффектов, кото­ рые на стадии решения задач синтеза просто игнорировались. Так, учет малой дисперсии материалов слоев, наличие малого поглоще­ ния, шероховатость поверхностей слоев и подложки и т.д. не могли учитываться при грубом синтезе интерференционного покрытия. Для технических приложений эти моменты оказываются важными, так как они определяют оптические свойства конкретных интерфе­ ренционных систем слоев. Учет этих особенностей заставляет ис­ следователей заниматься различными моделями слоев и включать их в решение задач оптимизации. Кроме того, сегодня уже техни­ чески возможно проводить решение задач синтеза и оптимизации с учетом технологических требований к осуществлению получаемой конструкции. Такая постановка задачи требует привлечения к рас­ чету определенных технологических параметров при предваритель­ ном создании моделей роста слоев в конкретных условиях. Извест­ но, что изменение условий получения слоев влияет на показатель преломления и толщину слоя. Именно эти параметры и должны учитываться при оптимизации и синтезе требуемой системы слоев для получения заданных оптических свойств. Продолжается и раз­ работка самих основ расчета многослойных систем. 347