Оптические материалы и технологии

1) аналитическим методам синтеза интерференционных покры­ тий, включающим конструирование оптических покрытий на осно­ ве представлений об эквивалентных слоях и границах; 2) машинным способам нахождения параметров тонкослойных покрытий. Исключительно важное в теории многослойных интерферен­ ционных пленок представление об эквивалентности возникло в связи с использованием матричных обозначений. Согласно этому пред­ ставлению, при заданных оптических постоянных обрамляющих сред любая комбинация пленок может быть для данного угла паде­ ния и фиксированной длины волны имитирована соответствующим двухслойным покрытием (теорема Эрпина). В случае симметрич­ ной комбинации слоев эквивалентом является одна пленка с экви­ валентным показателем преломления: \Мг л. = . ( 3 . 4 4 ) и эквивалентной фазовой толщиной: arccosMii. (3.45) При этом матрица интерференции принимает вид: М = V cosg, —s i n g , " с in^ sin cosg . (3.46) Понятие эквивалентности играет большую роль при констру­ ировании покрытий (особенно симметричных систем), поскольку позволяет легко представить свойстваряда весьма сложных много­ слойных систем. Так, эквивалентный показатель преломления и^. периодической системы сматрицей интерференции (3.46) окажется естественно таким же, как и для простого периода, а будет в m раз больше, чем эквивалентная фазовая толщина одного периода. При этом и gcj естественно, оказываются зависящими от спектраль­ ной переменной (длина волны или частота проходящего излучения), т.е. появляется значительная дисперсия. Понятие эквивалентного 337