Оптические материалы и технологии

Следует отметить также, что матрица интерференции симмет­ ричной системы, имеющей в общем случае вид aiic.. ..Ъа, удовлетво­ ряет условию; (3.25) Таким образом, расчет спектральных характеристик много­ слойной интерференционной системы заданного состава (пробле­ ма анализа) в приближении однородной изотропной пленки с иде­ ально плоскими границами при современном развитии вычислитель­ ной техники не представляет сложности. Это представление достаточно хорошо соответствует наблю­ даемой реальности и не вызывает каких-либо нареканий. В отдель­ ных случаях, при попытке достичь предельных значений отраже­ ния или пропускания света покрытием и, особенно, при попытках получить заданные фазы отражения, экспериментаторы сталкива­ ются с влиянием малых флуктуационных эффектов, таких, как неровности границ раздела слоев, неоднородность толщин слоев по площади покрытия и влияние структуры слоев покрытия на опти­ ческие св-ойства. Интенсивность рассеянного света обычно невели­ ка (если исключить из рассмотрения многослойные покрытия для вакуумного ультрафиолета), видимо, поэтому его обычно не рас­ сматривают при анализе оптических свойств интерференционных покрытий. Однако при разработке интерференционных зеркал для лазерного гироскопа, для которого требуется получение предель­ ных значений коэффициента отражения, учет рассеяния оказался необходимым. Само по себе рассеяние есть потери энергии излуче­ ния на поверхностях многослойного покрытия. Учет поверхност­ ных потерь несложно выполнить введением дополнительных мат­ риц в выражении (3.12): М„ y/Mji zM, ^ м. 22 J =п м 1 0^ yj к COSgjCp -smg;9 / «/Sing;9 C0Sg;9 1 0^ (3.26) где Yy- поверхностные потери, включающие поверхностную прово­ димость и потери на рассеяние излучения на неровностях j-я гра- 326