Оптические материалы и технологии

отражении и преломлений луча в слоях пленки с последующим сум­ мированием этих лучей с учетом амплитуды фазы каждого луча. Отражение по энергии определяется в соответствии с выраже­ нием (3.14), а пропускание в этом случае может быть определено как: Г - х -т* "о COS Q Q — ^0,w+l ^0,Af+l ~У ИО COS0 где 0 - угол падения излучения на поверхность системы слоев. Если через х обозначить точку внутри слоя без поглощения на оси распространения излучения, то интенсивность излучения в этой точке можно записать в виде; г f г \+Rj „ + 2^fRj^cos\ 2g^9 1 - ^ - A j V " У ы J J ( 3 . 1 7 ) где /о - интенсивность падающего на систему излучения; Год - про­ зрачность всей системы; прозрачность подсистемы слоев, ле­ жащих за рассматриваемым слоем;R к о э фф и ц и е н т отражения в рассматриваемый слой от этой же подсистемы; - сдвиг фазы при отражении; А - геометрическая толщина рассматриваем ого слоя; «о - показатель преломления среды, из которой падает излучение; Иу- показатель преломления рассматриваемого слоя. Аналогичным образом можно определить и значение элект­ рического поля световой волны в данной точке слоя. В этом случае полезнее разделить поле внутри слоя на стоячую и бегущую волны, что во многих случаях оказывается чрезвычайно полезным для по­ нимания физики происходящих процессов взаимодействия света с интерференционным покрытием. Распределение электрического поля внутри слоя можно представить в виде: E = E o t - e - ' ^ ' \ S +P ) , ( 3 . 1 8 ) где Ео - электрическое поле в облучающей слой волне; t - амплитуд­ ный коэффициент пропускания слоя;Д - сдвиг фазы при отражении от задней границы слоя; S - стоячая волна в слое, определяемая выражением; 323