Оптические материалы и технологии

Если излучение падает наклонно, под углом 0о к нормали по­ верхности, необходим учет этого обстоятельства. Из закона прелом­ ления Снеллиуса следз'ет, что угол преломления 0у в j-u слое опре­ деляется выражением: «„sin 00 cos0 , = ^l (3.13) Эффективные показатели преломления п,- равны: rij = пу co&Qj для S ~ компоненты, Пу= n/cosG; для Р-компоненты, где cos0^ опре­ деляется выражением (3.13). Величина g) =gycos0,-в обоих случаях. Энергетические коэффициенты отражения R и пропускания Т многослойной системы и соответствующие фазовые сдвиги легко оп­ ределяются из выражений (3.10) и (3.11). Так, если ограничивающие среды прозрачны и углы падения и преломление вещественны, то: R = r-r*\ ( 3 . 1 4 ) Т=х-х. ( 3 . 1 5 ) Звездочкой помечены комплексно-сопряженные величины. Сдвиги фаз при отражении и пропускании определяются обычным способом. Формулы (3.14) и (3.15) с учетом (3.10) и (3.11) являются основ­ ными для расчета спектральных характеристик многослойных ин­ терференционных систем. Если многослойная система состоит из диэлектрических слоев, характеризующихся малым поглощением, то в ряде случаев без ущерба для точности вычислений можно пре­ небречь мнимой частью показателей преломления слоев. Более интуитивным подходом к рассмотрению интерференци­ онных эффектов в тонких пленках (приводящим, однако, к тем же результатам, что и указанный матричный метод) является класси­ ческий метод Эйри - метод суммирования многократных отраже­ ний. Обобщение метода на случай многослойных систем позволи­ ло получить рекуррентные формулы расчета тонких пленок. Обоб­ щением этого метода является метод рекуррентных формул, пред­ ложенный А.Г. Власовым. Он основан на учете многократных 322