Теория надежности радиоэлектронной аппаратуры

ig'i Ч'т Ig' Рис. 2.6 m - параметр, характеризующий скорость роста надежности (для РЭА па­ раметр m = 0,3 OjS). Графически изображевде модели роста надежности представлено на рис. 2.6. igO.irp Если нет данных на Тх, то принимают значение 7^ -0,1-Zip или 0,1 Гр (здесь Т],- расчетное значение наработки на отказ). 2ЛЗ. Распределение Вейбулла Три вида зависимостей интенсивности отказов от времени можно получить, используя для вероятностного описания случайной наработки до отказа двухпарамегрическое распределение Вейбулла (рис. 2.7). Вероятность безотказной работы на ин­ тервале (О - /) равна: P{t) = ехр(-А,/®); / > 0; А, > 0; б > 0. (2,27) Плотность вероятности момента отказа; со Среднее время безотказной работы; = jexp(-X/^y?-X"^r|l + i L Рис, 2.7 (Л =_ . ^ ^ = Х5г®-'ехр(-Х^М. (2,28) dt ^ ' (2,29) где Г - полная гамма-функция. Интенсивность отказов; ^ (^) = ^ ^ ОД > 0; 5 > 0. 2.4.4. Экспоненциальное распределение Вероятность безотказной работы; P{t) - ехр(-А,1'); / > 0; А, > О является частным случаем распределения Вейбулла при 6 = 1, (2,30) (2.31) 33