Оптические материалы и технологии

r = ^uku, со8(2яиф), (3.55) к I gki = Z Sy" Z Ф = пА-о / 2A.; A.0 - длина волны соответствующая центру интервала просветления; N - число слоев в рассматриваемом покрытии; и,--показатель преломления у-го слоя; gj - фактор, определяющий оптическую толщину этого слоя и рав­ ный единице при равенстве оптической толщины четверти длины волны, соответствующей центру выделенной спектральной облас­ ти. Для оценки качества просветления поверхности, работающей в области спектра [А,,, Я-г], следует найти среднее значение отражения в рабочей области, т.е. величину: Варьирование этой величины по показателям преломления слоев или их толщине при условии минимальности среднего отражения позволяет находить либо показатели преломления слоев покрытия, либо их толщины. При вариации показателей преломления слоев су­ щественная ахроматизация просветления вполне возможна при уве­ личении числа слоев в покрытии и обязательного увеличения толщи­ ны покрытия в целом. При этом оказывается возможным достиже­ ние малых значений остаточного отражения в достаточно широкой области спектра, но одновременно показатели преломления внешних слоев покрытия оказываются слишком малыми. Это ограгшчение можно снять, если зафиксировать показатель преломления наружно­ го слоя, но тогда в большинстве случаев ухудшается ахроматичность спектральных свойств покрытой поверхности. Сравнительно простые соотношения, определяющие значения показателей преломления слоев просветляющего покрытия по задан­ ной спектральной кривой прозрачности, получаются для четверть­ волновых по толщине слоев двух-, трех- и четырехслойных покры­ 1 К'л С — cos2g^9(A.)afX, ^2 J,к N (3.56) 352