Оптические материалы и технологии

Здесь Tij и Rij - коэффициенты прозрачности и отражения на гра­ ничных поверхностях плоскопараллельной подложки; а - коэффи­ циент поглощения материала подложки и /г - ее толщина. В случае элемента, состоящего из нескольких склеенных подложек, выраже­ ние для коэффициентов отражения и пропускания всей системы может быть легко найдено из произведения матриц, характеризую­ щих оптические свойства каждой поверхности, входящей в рассмат­ риваемую систему; /=| f a:h, е '' О -а <Л; О J J 1 • R,R; Tj ( 3 . 4 2 ) В этом выражении штрихом обозначен случай отражения с обратной стороны покрытия, ajHhj-показатель поглощения и тол­ щина j-й подложки. Для непоглощающих интерференционных пле­ нок коэффициенты отражения с различных сторон покрытия оди­ наковы (здесь рассматриваются энергетические коэффициенты, а не амплитудные), но при наличии потерь они оказываются раз­ личными. Пропускание и отражение полной системы можно пред­ ставить через элементы приведенной матрицы как; :МГ,' м , ( 3 . 4 3 ) Полученное выражение полностью описывает спектральные характеристики готового оптического элемента (фильтра) из нескольких подложек (с возможностью использования цветных сте­ кол для дополнительного гашения заданных участков спектра). Расчет оптических свойств многослойных интерференционных пленок в какой-то мере аналогичен расчету электронных свойств одномерного твердого тела. В обоих случаях имеем дело с волно­ вым процессом, описание которого происходит одним и тем же ма­ тематическим аппаратом, что дает возможность ввести представле­ 334