Оптические материалы и технологии

и = ^ехр{гт1„\|/) О О exp (-/T | „\t;) О О О О О О О О О О exp(ni^v|/) (3.35) Вид матрицы и следует из общего решения о распростране­ нии волны в анизотропной среде. Флуктуации направления оптической оси в каждом слое, вли­ яющие на его оптические свойства, задаются флуктуацией парамет­ ров Ij, В каждой точке поверхности слоя эти величины принципи­ ально считаются различными, но связанными своими корреляци­ онными характеристиками. Из определения матрицы интерференции видно, что при /, = О матрица оказывается блочно-диагональной, т.е. компоненты S- и Р-поляризации излучения преобразуются структурой пленок неза­ висимо. При отличных от нуля величинах /, проявляется зависимость оптических свойств покрытия от поляризации падающего на по­ крытие излучения. Полагая в падающей волне В/А =у, из выраже­ ния (3.31) легко получаем значения коэффициентов пропускания и отражения излучения покрытием: £ _ —— — — — — — (3.36) t -L3iLI3L- Р т ' у L 'W31W23 'Wu'^^'23 ~ W2|W|3 L ^ L ' г - ^11^43 -W41W13 ^ W41W3 L yL L = W11W33 —Wi3H'3|, здесь Wij- матричные элементы матрицы интерференции W. (3.37) (3.38) (3.39) 332