Оптические материалы и технологии

тельных корригирующих голограмм, получаемых с использовани­ ем образцовых оптических поверхностей высокого качества. И, наконец, третьим источником ошибок являются погрешно­ сти юстировки контрольной схемы. Допустимые отклонения геометрических параметров схемы контроля от значений, принятых при синтезировании голограммы, можно определить из анализа зависимости остаточных аберраций оптической системы «синтезированная голограмма + асферика» от величины отклонения соответствующего параметра от расчет­ ного значения. С этой целью необходимо просчитать ход лучей для ряда зон при нескольких дискретных значениях исследуемого пара­ метра в окрестности его номинальной величины. Допуск на дан­ ный параметр устанавливается из этой зависимости с учетом задан­ ной точности изготовления оптической поверхности. 5.11. Лабораторные методы контроля Приведенные в этом подразделе методы пока не применяются в серийном производстве. Тем не менее принципиальная возмож­ ность их использования в большинстве случаев обоснована теоре­ тически, а в ряде случаев подтверждена практически на макетных установках и опытных образцах измерительных приборов. Основная причина, ограничивающая их применение, - недо­ статочная отработка, препятствующая проведению технологичес­ кого контроля, т.е. оперативного измерения непосредственно на рабочем месте без отсоединения детали от шпинделя станка, нане­ сения на проверяемую поверхность зеркального покрытия или про­ ведения других трудоемких и сложных подготовительных операций. Контактные методы Применение вкладных сфер. Вкладная сфера 1 (рис. 2.129,0:), помещенная внутрь асферической поверхности 2, позволяет опре­ делить координаты этой поверхности в точках, где касательные обеих поверхностей совпадают. Этот же принцип положен в основу описанного измерения ас­ ферических поверхностей на сферометрах ИЗС-7 и ИЗС-8. Однако метод вкладных сфер имеет тот недостаток, что связан с необходи­ мостью изготовления специальных оптических сфер, а это в каж­ 291