Оптические материалы и технологии

Ха р ак т е р зависимости функции Т{р) таких г оло г рамм пока­ зан н а рис. 2.126,5. В отличие от рис. 2.126,6 здесь участки голо­ г р аммы , соответствующие 7, < Jq , имеют некоторое неравное нулю пропускание (отражение), причем т =— ^ min i я г д е X ~ максимальное значение коэффициента пропускания (отра­ жения) г о л о г р а ммы п о интенсивности; отношение периода сле­ дования (шага) элементарных колец к ширине прозрачного (отра­ жающе г о ) элементарного кольца. Эквивалентная функция амплитудного пропускания такой го­ л о г р а ммы представлена н а рис. 2.126,г. В соответствии с этим г( О Т = - ^min =V x 1 . I ч) Не т р у дно показать, что комплексная амплитуда волны i/+ „, восстановленной в i n - м порядке дифракции такой г оло г раммы, имеет в и д Л ( g - l ) ^ / т . т г., , . о sin- — ехр[г(ф±иДф)], (2,37) %nq Q г д е А - модуль амплитуды восстанавливающей волны; Q, ф, Дф - см. в разд. 4.2. Эт о выражение позволяет оценить допустимые изменения па­ раме тров Q h q вдоль радиуса голограммы, что важно, например, при использовании фотометрических теневых методов контроля, так как в этих случаях требования к степени однородности анализируе­ мых световых волн сравнительно высоки (до нескольких процен­ тов). Т е м не менее, как показывают оценки, их выполнение н е пред­ ставляет серьезных трудностей. Значительно менее жестки эти тре­ бования п р и использовании интерференционных методов контро­ ля. Так, если амплитуда одной из волн, формирующих картину ин­ терференции, изменяется в направлении, перпендикулярном ее по­ лосам н а 10 - 20% за период, то это может вызвать смещение макси- 285