Оптические материалы и технологии

решетка 1, которая может заменяться зеркалом сравнения 11. С помо­ щью делительного стола производится изменение и контроль углов падения (3 и угла между осями у. На оси падающего пучка света уста­ навливаются спектральная щель 3, конденсор 4 и лазерный источник света 7, Лазерный источник может заменяться ртутной лампой 5 (типа ПРК-4) или источником 6 на основе шариковой лампы с различным наполнением и при этом проводить исследования решеток в интересу­ ющей области спектра. В зависимости от характера работ в дифраги­ рованном пучке могут устанавливаться спектральная щель 3', гори­ зонтальный микроскоп 5 сотсчетным механизмом, фотоприемник 9 или кассетный узел с отсчетным механизмом контроля его разворо­ та 10. В конструкции стенда предусмотрена возможность предвари­ тельной монохроматизации излучения, которая может вьшолняться с помощью вводимого в схему малогабаритного монохроматора 12 типа МУМ-2. Также предусмотрена быстрая заменяемость элемен­ тов стенда в зависимости от рода выполняемых работ. На стенде выполняются следующие операции контроля: - проверка и измерение фокусного расстояния решетки Iz, - визуальный контроль качества спектральной линии в гори­ зонтальной и вертикальной плоскостях; - фотографическая регистрация спектра для последующей рас­ шифровки и построения контуров спектральных линий (аппарат­ ных функций); - измерение дифракционной эффективности решеток в инте­ ресующей области спектра; - измерение частоты штрихов решеток по угловой дисперсии, Основные технические характеристики стенда: • диапазон изменения углов (3 и у 10-90 град •диапазон изменения линейных отрезков /| и/г 100- 1000 мм На стенде могут исследоваться решетки с пространственной частотой штрихов 300 - 2400 мм"', радиусом кривизны до 1 м, ди­ аметром до 90 мм. 3.6. Методы и оборудование для аттестации параметров дифракционных решеток Аттестация параметров дифракционных решеток является важ­ нейшей и неотъемлемой частью технологического процесса. 167