Xl Туполевские чтения : всероссийская (с международным участием) молодежная научная конференция. Казань, 8-10 октября 2003 г., тезисы докладов. Т. 3

Бинаризация тепловизионных изображений иа основе алгоритма поиска Х-кластеров Р.Х. Фасихов Научный руководитель: И.Б. Аксенов, к.т.н., доцент Казанский государственный технический университет им. А.Н.Туполева Традиционным подходом к бинаризации изображений является отсе­ чение по яркостным контурам. Известны статистические методы распозна­ вания объектов, основанные на подсчете условных вероятностей измене­ ния яркостных границ изображений. В докладе предлагается метод бинаризации и последующей обработ­ ки тепловизионных изображений с целью выделения характерных призна­ ков объектов, основанный на понятии Х-кластера. Под Х-кластером понимается совокупность смежных пикселей изо­ бражения. которая для каждогоp { i j ) - пикселя образует два инвариантных к повороту подмножества [(p(ij), p(i-lj) , p(i+lj) , p(ij-l) , p(ij+l)] и [(p{ij). p(i-lo-l) , p(i+lj+l) , p(i+lj-l) , p(i+lj+l)] с точностью r- окрестности. Применимость Х-кластеров для задач обнаружения и распознавания объектов может быть обоснована следующим образом. Численное значе­ ние яркости пикселя ИК- изображения поверхности фактически характе­ ризует температуру отдельных точек поверхности в относительной шкале. Разность численных значений яркости смежных пикселей окруже­ ния, вычисленная относительно рассматриваемого p(ij) - пикселя харак­ теризует излом производной температуры по направлению. Таким образом, совокупность Х-кластеров с близкими значениями производных по направлению, отображенная в виде двумерного множест­ ва точек образует бинарную картину теплового рельефа в совокупности значимых признаков. Инвариантность признаков Х-кластера по отношению к повороту обеспечивается выбором радиуса г-окрестности яркостного значения пик­ селя, при котором обеспечивается совпадение диагональных, вертикаль­ ных и горизонтальных производных. 33