Основы проектирования измерительных приборов и измерительно - вычислительных систем

239 ц гр 1 2 t f ≤ , (6.67) где f гр – частота самой высокочастотной составляющей на выходе непре - рывной части управляемой технической системы ( максимальная частота изменения выходного параметра ИВС ). При заданной допустимой динамической погрешности дин y ∆ опре - деления выходного параметра y и известной максимальной скорости его изменения max y & время цикла обработки можно оценить как дин ц max y t y ∆ ≤ & . (6.68) Полученные соотношения позволяют обосновать требования к ос - новным характеристикам устройства обработки информации проектируе - мой информационно - измерительной системы на начальном этапе проек - тирования . Таким образом , в результате проектирования по приведенной ме - тодике будет сформирован облик и алгоритм функционирования разраба - тываемой информационно - измерительной системы ( или ее канала ), обос - нованы технические требования к ее основным функциональным элемен - там , подготовлены исходные данные к выбору функциональных узлов и ор - ганизации управления , к аппаратурной и программной реализации ИВС . Следует отметить , что характеристики ряда функциональных эле - ментов будут отличаться от выработанных требований ( а иногда и не удов - летворять им ). В этом случае после подбора функциональных узлов необ - ходимо провести расчет погрешностей и при необходимости скорректи - ровать требования к ряду функциональных узлов и элементов . Вопросы для самоконтроля 1. Какие исходные данные используются при проектировании из - мерительно - вычислительной системы ? 2. В чем суть методики обоснования требований к систематиче - ским и случайным погрешностям функциональных элементов измеритель - но - вычислительной системы ?