Основы проектирования электронных средств

- плотностью потока энергии - отношением потока энергии с/Фэ, проникающего в объем элементарной сферы площади попе­ речного сечения этой сферы dS: (f d0yldS, Дж/(с см^); (7.37) - поглощенной дозой излучения, энергией любого вида излу­ чения, поглощаемой единицей массы облучаемого вещества: D = dE/dm, Дж/кг или рад = Ю'^Дж/кг; (7.38) - мощностью поглощенной дозы излучения - отнощением приращения поглощенной дозы излучения за интервал времени dt к этому интервалу: Р = dD/dt, Дж/(кг с) или рад/с. (7.39) 7.6.2. Влияние радиационных воздействий на материалы и компоненты ЭС Степень стойкости материалов и компонентов к радиационному воздействию во многом определяется природой материала. Наиболее стойкими являются различные металлы и неорганические соединения, чувствительными же к воздействию - полупроводники и органиче­ ские материалы. Обобщенная информация по влиянию радиацион­ ных воздействий на РЭС представлена в табл. 7.1 [50]. Таблица 7.1 Влияние радиации на материалы н компоненты РЭС Материалы или компоненты Изменения под воздействием излучения Доза облучений, рад Металлы Термопласты Фторопласт-4 Керамика Материалы Не изменяют свои характеристики до плотно­ сти потока 10"'^ нейтр./см", возрастает предел текучести, ударная вязкость снижается, изме­ няется магнитная проницаемость Становятся хрупкими, темнеют или обесцвечи­ ваются Разлагается на фтористоводородные соедине­ ния Увеличивается склонность к пробою 10^-10' 10^ 1 0 ' - 10* 430