Основы проектирования электронных средств

Это может привести к выходу из строя отдельных элементов, напримф управляющих транзистчюв и микросхем. В этом случае парал­ лельно обмотке реле следует включить диод (катодом к плюсу источника питания), как это показано на рис. 7.15. Рис. 7.13. Простой сетевой фильтр Рис. 7.14. Улучшенный LC-фильтр Рис. 7.15. Схема подавления ЭДС самоиндукции 7.5. Помехоустойчивость аппаратуры, построенной с применением интегральных микросхем Аппаратура, построенная с применением ИС и БИС, может подвергаться как внутренним, так и внешним наводкам и сама служить источником наводок. Внутренние наводки в микроэлек­ тронной аппаратуре зависят от двух факторов: 1) паразитных связей в ИС и БИС; 2) паразитных связей между ИС и БИС, получающихся при компоновке из них узлов и блоков. Размеры отдельных элементов, входящих в состав ИС и БИС (резисторов, конденсаторов, проводников и т.д.), малы по сравне­ нию с аналогичными элементами для дискретных узлов. Поэтому для микросхем характерно значительное уменьшение паразитных распределенных параметров. Однако компоненты в микросхемах располагаются на меньших расстояниях друг от друга, поэтому возрастает их взаимное влияние. 416