Основы проектирования электронных средств

Такие дефекты, как ммкротрещины, поры, образования при травлении могут быть выявлены визуальным контролем при нали­ чии хорошего контраста между дефектным участком и остальной поверхностью объекта. Добиться этого можно, обеспечивая опти­ мальное освещение контролируемого объекта. На систему VS8 ус­ танавливается 6- или 10-точечное кольцевое освещение, обеспечи­ вающее яркое изображение без теней и бликов. Интенсивность ос­ вещения регулируется. Одной из самых полезных и впечатляющих функций VS8 яв­ ляется проекционная система с изменяемыми углами зрения и обзора. Она позволяет поворачивать изображение печатной пла­ ты на угол 34° по отношению к плоскости контролируемого объ­ екта, а с помощью ручного или моторизированного привода ме­ нять направление обзора в плоскости вокруг объекта на 360°. При этом скорость вращения плавно регулируется. Данная сис­ тема улучшает обзор 3-мерных объектов, включая места паяных соединений, металлизированные отверстия, штыри и резьбовые соединения. Благодаря наличию большого экрана система позволяет ра­ ботать оператору в очках или контактных линзах. К системе может быть также подключено дополнительное оборудование: цифровые фото- и видеокамеры, пленочные фотоаппараты, сравнительные и визирные сетки для контроля размеров и шага выводов компонен­ тов, размеров проводников и зазоров. Другой проблемой при визуальном контроле является сложность инспекции компонентов со скрытыми выводами типа BGA и (iBGA. Для этих целей разработана система визуального контроля ERSASCOPE, которая имеет принципиально новое конструктивное исполнение. С помощью световода и оптическо­ го датчика система позволяет осуществлять визуальный контроль выводов, расположенных под корпусом компонента при минимальном зазоре между печатной платой и компонентом 0,05 мм. на экране монитора с увеличением изображения до 350 крат. Подключение к персональному компьютеру позво­ ляет производить автоматизированный контроль паяных соеди­ нений компонентов методом сравнения изображения вывода тестируемого компонента с эталонным изображением. 257