Теория надежности радиоэлектронной аппаратуры
группы определяются условия, в которых создавалось направление или начинался очередной этап развития. • Третья группа определяет основные результаты развития на правлений, которые формируют начальные условия для следующе го этапа, т.е. определяются значения ряда факторов из первых двух групп. Предлагается изменение стандартов в области качества и надежности, методологии исследования надежности. Основной причиной возникновения проблемы надежности ра диоэлектронной аппаратуры была низкая надежность комплек тующих элементов. Поэтому возникли следующие вопросы: - каковы основные причины ненадежности и пути их устранения; - существуют ли пути создания надежных систем из элемен тов с ограниченной надежностью; - можно ли прогнозировать надежность создаваемой системы на этапе проектирования? По первому вопросу были достигнуты значительные успехи в повышении надежности элементов благодаря изучению влияния н отказы факторов: температуры окружающей среды, вибрации, элек трические нагрузки и т.д. Был создан богатый статистический матери ал для получения оценок характеристик надежности радиоэлементов в виде ^.-характеристик, а также оценка зависимости ^.-характеристик от электрических, механических и тепловых нафузок. Второй вопрос определяется резервированием ненаделсных элементов и схем. Использование схем с избыточностью дало тол чок к развитию методов анализа надежности и теоретических ме тодов синтеза надежных схем из ненадежных элементов. Третий вопрос решается использованием вероятностных мо делей, основанных на гипотезе об экспоненциальном законе рас пределения времени до отказа электронного оборудования, что да ло возможность прогнозировать надежность создаваемых систем. Существенное повышение надежности электронного оборудо вания привело к перераспределению значимости источников на дежности. Центр тяжести переместился на механическое и элек тромеханическое оборудование, конструкцию приборов и агрега 8
Made with FlippingBook
RkJQdWJsaXNoZXIy MTY0OTYy