Теория надежности радиоэлектронной аппаратуры
где к - количество отказов. В нашем случае к = \. Обозначим ~ = d - коэффициент пропорциональности увеличения суммарной ^0 наработки данного типа элемента в аппаратуре до первого отказа. Можно предположить с вероятностью (0,95 ^ 0,98), что отказ элемента в составе аппаратуры произойдет при суммарной нара ботке t = . При принятых условиях периода нормальной эксплуатации, т.е. предположения, что на интервале времени (0-Г,„[„) не возник ло ни одного отказа данного элемента, и при выполнении условия стационарности и отсутствия последствий можно записать сле дующее выражение: 1(0,95-0,98)6-""'"-" =1. (3.21) Из данной формулы определяется величина интенсивности отказов элементов X, которую можно использовать для предвари тельной расчетно-экспериментальной оценки надежности аппара туры на этапах эскизного и технического проектирования; , 0,05-0,02 А. ~ .
Made with FlippingBook
RkJQdWJsaXNoZXIy MTY0OTYy