Теория надежности радиоэлектронной аппаратуры

Таблица 3.2 Л. Количество отказов г или образцов II О Y = 0,8 II О 1,5 65 41 27 1,6 50 30 20 1,7 44 24 16 1,8 34 19 13 1,9 27 16 1 2,0 23 14 10 2,5 13 8 б 3,0 9 6 4 Примечание. 1. Промежуточные значения квантилей могут быть показаны линейной интерполяцией. 2, р = Р = ]~у,Р = у в зависимости от планов испытаний. По табл. 3.2 также выбирают план для оценки наработки на отказ или средней наработки до отказа аппаратуры. При проведе­ нии испытаний невосстанавливаемой аппаратуры количество об­ разцов должно быть не менее числа отказов г, указанного в данной таблице, т.е. п>г. При испытаниях восстанавливаемой аппарату­ ры число п образцов аппаратуры можно выбрать любое. При определительных испытаниях с офаниченной продолжи­ тельностью следует расходовать все время, выделенное на испытания. Минимальное число отказов г>1, необходимое для обеспече- Т ния заданной точности— , определяются по формуле: Т — =- f — Г Т ' (3-9) XI,* {2г) где у - заданная доверительная вероятность; X'' - значения квантилей выбираются из табл. 4.4 работы [4]. 50