Оптические материалы и технологии

А-А | - направление плоскости поляризации линейного поля­ ризатора; Б-Б] - направление плоскости поляризации анализатора; В-В) - главное направление быстрого распространения чет­ вертьволновой фазовой пластинки; Г-Г| - главное направление быстрого распространения одно- волновой фазовой пластинки. Для количественной оценки разности хода при двулучепрелом- лении, вносимой исследуемым образцом, в оптическую схему вво­ дится четвертьволновая пластинка. Действие ее заключается в пре­ образовании эллиптически поляризованного излучения, вышедше­ го из исследуемого образца, в линейно поляризованное. Линейно поляризованное излучение гасится анализатором, т.е. прибор ра­ ботает как поляриметр. Основным измерительным элементом при­ бора является измерительная головка, состоящая из корпуса, в ко­ тором расположены одноволновая и четвертьволновая пластинки и вращающийся анализатор. Четвертьволновая пластинка в соче­ тании с аращающимся анализатором представляет собой компен­ сатор Сенармона. Метод контроля бессвильности заключается в оценке теневой картины свилей, получаемой на экране проекционной установки, и сравнении ее с теневой картиной эталонных свилей 1-й или 2-й ка­ тегории бессвильности. Определение размеров и количества пузырей проводят в про­ ходящем свете спомощью микроскопа; сначала устанавливают ко­ личество пузырей минимального размера, затем определяют число пузырей по размерным группам. Из большего числа пузырей опре­ деляют диаметр наибольшего пузыря. Контрольные вопросы 1. В чем состоит принцип действия рефрактометра? 2. Что такое оптическая однородность? 3. Что влияет на неоднородность оптического стекла? 4. Как выбирают миры для проверки оптической однородности? 6 0