Оптические материалы и технологии

1.25. ГОСТ 3522 - 81. Материалы оптические. Метод опреде­ ления пузырности. М.: Изд-во стандартов, 1981. К разделу 2 2.1. АгачевА.Р., Ларионов Н.П., Лукин А.В., Миронова ТА., Нюш- кинА.А.. ПротасевичД.В., Рафиков Р. А. Синтезированная голограмм- ная о п т и к а / Оптический журнал. 2002, Т. 69. № 12. С. 23 - 32. 2.2. Афанасьев В.Л. Оптические измерения: Уч е бник для ву­ зов. М.: Недра, 1968. 256 с. 2.3. Афанасьева В.Л., Аутко О.А., Селезнев В. А. Голограмм- ные дифракционные решетки с частотой 3600 мм"' / Оптико-меха­ ническая промышленность. 1982. № 6. С. 6 0 - 6 1 . 2.4. Бегунов Б.Н., Заказное Н.П. Теория оптических систем; Уч е б н о е пособие для вузов. М.; Машиностроение, 1973, 488 с, 2.5. Бобров С. Т., Грейсух Г.И., Туркевич Ю.Г. Оптика дифрак­ цио нных элементов и систем. Л.: Машиностроение, 1986. 223 с. 2.6. Бухараев Л.А. Диагностика поверхности с п о м ощь ю ска- нирующе | 1 туннельной микроскопии. (Обзор) / Заводская лабора­ тория. 1994. № 10. С. 15 - 27. 2.1. Быков В. А., Лазарев М.И., Тавров А.В. Сканир ующая зон- довая микроскопия для науки и промышленности / Компьютерра . 1997. №41 .С. 38 . 2.8. Герасимов Ф.М. Современные дифракционные решетки. (Обзор) / Оптико-механическая промышленность. 1965. № 10. С. 3 3 - 4 9 ; №11. С. 3 3 - 4 2 . 2.9. Герасимов Ф.М., Яковлев Э.А. Дифракционные решетки / Совр еменные тенденции в технике спектроскопии. Новосибирск: Наука, 1982. С. 2 4 - 9 4 . 2.10. ГОСТ 11141-84. Детали оптические. Классы чистоты по­ верхностей. Методы контроля. М.: Изд-во стандартов, 1984. 2.11. ГОСТ 13240-78. Заготовки оптического стекла. Техничес­ кие условия. М.: Изд-во стандартов, 1985. 2.12. ГОСТ 24865.1-81. Голография и голографические мето­ ды. контроля качества. Те рмины и определения. М.: Изд-во стан­ дартов, 1982. 70