Оптические материалы и технологии

Рефлексометр состоит из посадочного места в виде коничес­ кой диафрагмы 1, проекционной системы 2^ ирисовой диафраг­ мы 3, осветителя 4, микроамперметра 5, фотоэлектронного умно­ жителя 6, светофильтров 7, приемной системы 8, контролируемой детали 9, поворотного экрана 10. Установка также содержит стаби­ лизированные блоки питания. Перед контролем на поверхность конической диафрагмы ус­ танавливают эталонный образец в виде непросветленной плас­ тинки с клином из стекла марки К8, коэффициент отражения ко­ торой известен и равен 4,2 %. Силу фототока Ак отмечают по показаниям микроамперметра. Далее на коническую диафрагму устанавливают проверяемую деталь 9 и также отмечают силу фо­ тотока А„. В результате определяем коэффициент отражения проверяемой детали по формуле; р =^ - 4 , 2%. А , Если изменять значение светового потока проекционной сис­ темы с помощью ирисовой диафрагмы, то можно подобрать такой световой поток, при котором показание микроамперметра бу­ дет численно равно или кратно значению коэффициента отражения эталонного образца. В этом случае сила фототока A „ будет равна или кратна значению коэффициента отражения р от поверхности проверяемой детали. Установка снабжается наборами конических диафрагм с от­ верстиями от 2 до 30 мм и светофильтров. Чтобы на результаты из­ мерения не влияли посторонние засветки, посадочное место закры­ вают поворотным экраном. Соответствие определенной длине волны просветляюще­ го покрытия заданной области спектра определяют путем сравне­ ния интерференционной окраски пленки в отраженном свете с цве­ том пленки на контрольных образцах детали. Известно, что однослойные и двухслойные просветляющие покрытия в зависимости от длины волны , для которой коэффи­ 450