Оптические материалы и технологии

Рис. 3.37. Общий 1!ид фурье-спектрофотометра Equinox-55 (ИК-диапазои) Значения спектральных коэффициентов отражения измеряют 1Ш аналогичных спектрофотометрах, ио с использованием специ- аз1Ы1ЫХ пасадок. Для этого используются спектрофотометрические рефлектометры (например, модели СФР-1, СФР-2 (0,18-1,10 мкм), ИКСР-1 (2,5-25,0 мкм) и др.). Погрешность измерения малых значе­ ний коэффициента отражения может быть снижена до 0,05-0,10 %в результате оптической растяжки шкалы, пох^решность измерения больших значений коэффициента отражения - до 0,1-0,2 % за счет мпох'ократности отражений и других методик. На отечественных предприятиях используются установки, позволяющие проводить из­ мерение с погрешностью до сотых долей процента. Спектрофотометры с насадками для измерения коэффициен- •roii пропускания и отражения дают возможность контролировать плоские поверхности. Сферические поверхности контролируются по o6pa3ny-CBHAeTejno (контрольному образцу) в виде диска с плос- коиараллельными поверхностями (контроль пропускания) или кли- повидпого сечения (контроль отражения). Образец-свидетель изго- ТОВ31ЯЮг в аналогичных технологических условиях с партией дета­ 44»