Оптические материалы и технологии

тра. Метод основан на том, что случайный поглощающий экран, состоящий из малых областей прозрачности и непрозрачности, при­ водит к изменению интенсивности проходящего через него излуче­ ния. Если области непрозрачности подобного экрана выполнить из тонкого слоя хорошо отражающего металла, то, наряду с пропус­ канием, этот экран будет и отражающим, т.е. это будет светодели­ тель . Отношение энергий в различных каналах определится при этом отношением площадей занятой непрозрачным слоем металла и сво­ бодной от покрытия. Подобная задача быларассмотрена для пост­ роения дифракционного зеркала интерферометра. Было показано, что специальный выбор фазовых соотношений для интерферирую­ щих волн позволяет исключить рассеянный свет при периодичес­ ком расположении дифрагирующих элементов. Без использования методов интерференции периодические дифракционные структуры приводят к появлению рассеянного света, т.е. к потерям излучения. Снижение уровня рассеянного света возможно при использовании случайного расположения прозрачных и непрозрачных элементов. При этом оказывается важным именно случайное расположение отверстий и их формы в слое металлам достаточные размеры самих отверстий. При наличии периодичности в системе отверстий про­ исходит дифракция в порядке выше нулевого, т.е. потеря энергии, а при случайном расположении отверстий это практически полнос­ тью исключено. Для проверки этого предположения авторами был изготовлен светоделитель с отношением 50:50 для области спектра от 0,2 до 2,5 мкм на основе слоя алюминия, нанесенного через спе­ циально изготовленную маску из деформированной сетки на под­ ложку из стекла к-я. Алюминий был выбран, потому что в указан­ ной области спектра этот металл обладает наилучшими оптически­ ми свойствами и хорошей сохраняемостью оптических свойств при эксплуатации. Потери на рассеяние и поглощение оказались при этом менее 10%, а спектральные характеристики неселективны, что важно для практических приложений. Полученные спектральные характеристики приведены на рис. 3.11, где сплошными линиями показаны характеристики при нормальном падении излучения, а штриховыми - при угле падения 45°. 369