Оптические материалы и технологии

g 0.4- D. 0,2- 1,0- 1,00 1,02 1,04 1,06 1,08 1,10 Длина волны, мкм Рис. 3.9. Спектральная прозрачность узкополосного фильтра Г "• I •— I I I I " 1 , 1 г J При использовании слоев кремния можно указан­ ную систему наносить на плавленый кварц, так как кремний поглощает всю ко­ ротковолновую часть спект­ ра, а в длинноволновой обла­ сти чувствительность исполь­ зуемых приемников излуче­ ния практически отсутствует. В случае применения сульфи­ да или селенида цинка необ­ ходимо всю систему наносить на стекло ИКС-5 для обеспечения эффективного гашения коротко­ волновой части падающего излучения или использовать описанные отрезающие системы. Чтобы снижение пропускания общей системы (узкополосный фильтр плюс отрезающая система) было минималь­ ным, используется специальный подбор отрезающей системы. На первый взгляд представляется необходимым получение фильтров с полушириной, равной спектральной ширине использу­ емого лазерного излучения (аналогично требованиям к фильтрам для определения концентрации вещества по прозрачности на ли­ нии его поглощения). На самом деле это не так. Полуширина филь­ тра должна обеспечивать высокое пропускание зондирующего из­ лучения в широком диапазоне температурных условий и сравни­ тельно большом диапазоне углов падения излучения на фильтр. Учет этих требований приводит к значительному расширению требуемой спектральной характеристики пропускания фильтра и приданию ей П-образной формы, о чем было сказано ранее. Изменение темпера­ туры фильтра и угла падения излучения на поверхность фильтра приводит к смещению спектральной характеристики пропускания то спектру, что и требует использования П-образной формы, сни­ жающей влияние указанных факторов. Естественно, при таком подходе к построению фильтра неиз­ бежно несколько ухудшается отношение сигнал - шум, что связано 366