Оптические материалы и технологии

Появление пичков в области малой прозрачности легко по­ нять при рассмотрении объединенной системы как двух поверх­ ностей, разделенных некоторым слоем, получающимся из сумми­ рования двух совмещающихся слоев обеих систем. В этом случае прозрачность системы в спектральной точке к может быть пред­ ставлена в виде; Здесь величины 7}, Rj, 5j - прозрачность, отражение и сдвиг фазы j-Pi системы на длине волны X; /г - толщина промежуточного слоя; п - показатель преломления. В окрестности точки перехода от малой прозрачности к большой аргумент косинуса оказывает­ ся близким ктс, что и приводит к появлению пика прозрачности у суммарной системы. Введение дополнительного промежуточно­ го слоя между системами (или изменение толщин объединяемых слоев) позволяет исключить его появление, но толщина этого слоя должна быть определена специальным расчетом. При объедине­ нии нескольких систем может оказаться, что появляется сравни­ тельно большое количество малых пичков. В этом случае оптими­ зировать систему в области блокировки оказывается значительно сложнее и приходится проводить оптимизацию только по облас­ ти прозрачности, добавляя дополнительные системы для сниже­ ния пропускания в области блокировки. Следует иметь в виду, что если появляющиеся пики малы и узки, то интегральная прозрач­ ность в области блокировки практически не изменяется, т.е. их появлением можно пренебречь. В целях получения более гладких спектральных характерис­ тик прозрачности эти системы оптимизируются при использовании указанной программы, применяемой для поиска систем, максималь­ но обеспечивающих выполнение требований к спектральным харак­ теристикам создаваемых фильтров, что иллюстрируется рис. 3.7, на котором показана спектральная характеристика фильтра, блокиру­ ющего излучение с длинами волн короче 0,76 мкм. Т = (3.57)