Оптические материалы и технологии

Радиус кривизны асферической поверхности в зоне_у, где возни­ кает это соприкосновение, определяется из следующего выражения; ty R,= у-а где радиус асферической поверхности в зоне^»; г-радиус шаро­ вых сегментов; а ~ расстояние между центрами шаровых сегментов; у - радиус контролируемой зоны асферической поверхности. Сферический блок может быть заменен диэдром (рис. 2.130,6), где шаровые сегменты заменены двумя одинаковыми клиньями; в этом случае радиус кривизны измеряемой асферической поверхно­ сти в зоне, где возникает соприкосновение: R=- У а cos — 2 где у - радиус контролируемой зоны; а - угол диэдра. /Г У ^ Рис. 2.130. Контроль; а - сферическим блоком;ff - с помощью диэдра К недостаткам обоих методов следует отнести необходимость изготовления для каждого вида деталей набора специальных тру­ доемких сферических блоков или диэдров, сложность их центриров­ 293