Оптические материалы и технологии

вать заданные в о л н о вые поверхности с т очно с т ьюд о малых долей д л и н ы световой в о л ны Хп р и асферичности в сотни Я, а также пост­ роения г оло г рафических схем для контроляши р о к о г о класса асфе­ рических поверхностей с интерферометрической точностью. Методы, основанные на голографической интерферометрии Пр и наличии образцовых поверхностей д л я контроля мо г ут быть успешно использованы методы голографической интерферомет­ рии. Особенно высокой эффективности можно ожидать о т их исполь­ зования п р и серийном производстве (простота конструкции и юсти­ р о в ки голографических интерферометров, возможность контроля деталей одновременно н а нескольких установках с использованием только одной об р а з цо в ой детали, высокая универсальность и т.п.). Опыт контроля оптических поверхностей различных типов с по­ мощью г оло г рамм, полученных п о образцовым поверхностям, пока­ зывает, что в ыб о р схемы контроля в д анном случае н е представляет 1"рудности.Пр и э т ом мо г у т быт ь использованы как осевые, так и вне- осевые схемы интерферометров. Следует отметить, ч т о качество го­ лографических теневых и интерференционных картин достаточно высокое и это позволяет выявлять дефекты испытуемых оптических элементов ра зме рамид о малых долей длины световой волны. В случае ма с сово г о производства однотипных оптических де­ талей п р и кон т р ол е п о о б р а з ц у может оказаться поле зным размно­ жение г о л о г р амм и х копированием изложенным в работах методом, к о т о рый основанн а фо рми р о в а нии отпечатка фотоэмульсионного рельефа г о л о г р амм-ма т р ицы в слое полиэфирной смолы. Метод сравнительно прост , а получаемые п р и э т ом г оло г раммы- копии п о р я д у параметров (долговечности, механической прочно с ти и др.) значительно превосходят г оло г рамму -оригинал . Результаты экспериментальной проверки возможностей двух- длинноволновой г о л о г р афии свидетельствуют о ее преимуществах п о сравнению сиз вестным методом сферическогоп р о б н о г о стекла. Так, полученные п р и к о н т р о л е асферической поверхности четвер­ т о г о порядка, описыва емой уравнением: >•2 = 208, ЗХ +1,592x2 -0,02021x3 +0,1654x^ 275