Оптические материалы и технологии

1) применить специальное разгрузочное устройство, ограни­ чивающее давление на сферометр до 5 Н;, 2) использовать детали со сферическими или ближайшими к ним сферическими поверхностями, которые аттестованы одним из опти­ ческих методов с достаточно высокой точностью (на порядок выше измеряемых деталей) и позволяют заменить абсолютные измерения от­ носительными; 3) ввести в комплект сферометра дополнительные кольца с тем, чтобы измеряемые зоны были расположены друг от друга на рас­ стоянии, не превышающем 4 - 6 мм. Это обеспечит надежный и оперативный контроль на сферо­ метрах асферических поверхностей, определяемых уравнениями любого порядка и имеющих диаметр от 20 до 300 мм. 5.8. Методы контроля, основанные на законах геометрической оптики Теневые методы 1. Схемы Фуко, Ричи и Хиндла Одним из наиболее распространенных методов контроля по­ лированных асферических поверхностей диаметром более 200 мм является теневой методФуко. При серийном изготовлении деталей меньшего диаметра теневой метод, как правило, целесообразно ис­ пользовать только для контроля асферических пробных стекол. Сущность теневого метода контроля состоит в следующем. Ис­ следуемая асферическая поверхность (одна или в совокупности с компенсационным объективом) преобразует падающий на нее пу­ чок света в сходящийся, близкий к гомоцентрическому. В точке схождения формируется изображение источника света, в качестве которого служит освещенная диафрагма скруглым отверстием ма­ лого диаметра или узкой щелью. За изображением источника рас­ полагается глаз наблюдателя так, чтобы весь пучок, отраженный от поверхности, проходил через его зрачок и испытуемая поверх­ ность представлялась наблюдателю равномерно освещенной. В плоскость изображения источника вводится нож с тонким прямо­ линейным краем (нож Фуко), плоскость которого перпендикуляр­ на оптической оси исследуемой поверхности. 260