Оптические материалы и технологии

Окончание табл. 2.5 Год Открытие, изобретение Фамилия авторов и страна Основные результаты 1915 Предложение контролировать положение штрихов при изготов­ лении на делительной машине, используя интерферометр Майкель- сон, США Улучшилось качество ди­ фракционных решеток 1935 Введение вакуумного оса­ ждения тонких металлических пленок Стронг, США Позволило нарезать ди­ фракционные решетки в тон­ ком слое металла, нанесенном на поверхность стеклянной заготовки. Упростило получе­ ние новых заготовок, дифрак­ ционная эффективность реше­ ток в целом стала выше 1940-е годы Разработка методов высо­ кокачественного копирования дифракционных решеток Уайт и Фрейзер, США С этого момента действи­ тельно широкое применение стали получать дифракцион­ ные решетки-копии в спек­ тральных приборах 1955 Применение в конструкции делительной машины системы сервоконтроля на основе класси­ ческого интерферометра Гаррисон и Строук, США Значительно облегчило получение высокочастотных дифракционных решеток и повысило их качество 1950- 60-е годы Внедрение в конструкцию делительной машины системы автоматического управления, построенной на основе муаро­ вого интерферометра Герасимов, СССР Повышение качества вы­ сокочастотных дифракцион­ ных решеток 1960-е годы Изобретение способа полу­ чения голограммных дифрак­ ционных решеток Рудольф и Шмаль, Германия; Лябейри и Фламан, Франция Улучшение свойств ди­ фракционных решеток в це­ лом, но у данного типа реше­ ток есть также и свои ограни­ чения 1970-е годы Получение дифракционных решеток (плоских и вогнутых) с переменным шагом Герасимов, СССР; Харада, Япония Снижение аберраций ди­ фракционных решеток 1970-е годы Применение магнитострик- ционного способа коррекции в делительной машине Стрежнев, Куинджи, СССР Снижение приблизительно в 10 раз величины интенсив­ ности «духов» Лаймана ь высоких порядках спектра, обеспечение лучшей коррек­ ции случайных погрешностей в положении штрихов 121