Материаловедение в машиностроении

Рис.1.10- Кристаллографические оси X,У,Z или h,k,l Индексы кристаллографической плоскости представляют собой целые числа, являющиеся величинами, обратными отрезкам осей, отсекаемых данной плоскостью по осям координат X,Y,Z. За единицу принят период решетки. Полученные значения простых целых чисел, не имеющие общего множителя, являются индексами Миллера для плоскости, указываются в круглых скобках. Примеры обозначения кристаллографических плоскостей на рис. 1.11. Другими словами, индекс по оси показывает, на сколько частей плоскость делит осевую единицу по данной оси. Ориентация прямой определяется координатами двух точек. Для определения индексов кристаллографического направления необходимо:  одну точку направления совместить с началом координат;  установить координаты любой другой точки, лежащей на прямой, в единицах периода решетки;  привести отношение этих координат к отношению трех наименьших целых чисел. Индексы кристаллографических направлений указываются в квадратных скобках, например, [111] (рис.1.12). В кубической решетке индексы направления, перпендикулярного плоскости (hkl) имеют те же индексы [hkl]. 19