Статистические методы в управлении качеством

51 вероятность попадания выборочного среднего процесса, центрированного на APL В , выше уровня ACL В была равна α. Показанные на рисунках 4.6 и 4.7 величины APL В и ACL В рассчитываются по формулам APL B =T B -z P0 σ W (4.57) (4.59) Аналогично рассматривается случай недопустимой расстройки процесса при которой производственное распределение сдвигается в сторону верхней границы поля допуска так, что доля несоответствующих единиц продукции становится равной p 1 . Этот случай иллюстрируется рисунками 4.8 и 4.9. Рисунок 4.8. Недопустимая расстройка процесса Рисунок 4.9. Риск потребителя Показанные на рисунках 4.8 и 4.9 величины RPL В и ACL В рассчитываются по формулам RPL B =T B -z P1 σ W (4.59) (4.60) После сложения (4.58) и (4.60), получим (4.61) Подставив (4.61) в (4.58), имеем (4.62) КК может быть построена, если известны ACL В и n. Можно показать, что на основании формул (4.58), (4.60), (4.61), (4.62) величины ACL В и n могут быть найдены по любой паре из определяющих элементов: приемлемый уровень процесса (APL В ),