Статистические методы в управлении качеством

23 np p p LCL UCL p p /) 1( 3 ,    , (1.1) где р – вероятность отбора дефектного изделия. Контрольные границы np-карты определяются по формуле ) 1( , p pn np LCL UCL np np    , (1.2) Контрольные границы С-карты определяются по формуле c c LCL UCL c c 3 ,  , (1.3) Параметр С обычно известен и поэтому можно использовать в качестве его несмещенной оценки среднее арифметическое дефектов С i (i = 1, 2,…, к). Контрольные границы для карты U определяются по формуле n u u LCL UCL u u 3 ,  , (1.4) где U – отношение общего количества дефектов во всех пробах по предварительным исследованиям к числу изделий во всех пробах предварительного исследования. Контрольные границы для х – карты определяются по формуле , (1.5) Контрольные границы для для R – карты определяются по формулам: , (1.6) , Контрольные границы для для x ~ – карты определяются по формуле , (1.7) Контрольные границы для для s – карты определяются по формулам , (1.8) Значения коэффициентов зависят от количества выборок и приведены в табл. 1.2. Таблица 1.2 Значения коэффициентов для расчета контрольных границ контролируемых параметров n А 2 Д 3 * Д 4 В 3 В 4 2 3 4 5 6 7 8 9 1,880 1,023 0,729 0,577 0,483 0,419 0,373 0,337 - - - - - 0,076 0,136 0,184 3,267 2,575 2,282 2,115 2,002 1,924 1,864 1,816 - - - - 0,030 0,118 0,185 0,239 3,267 2,568 2,226 2,089 1,970 1,882 1,815 1,761 RAX LCL UCL x x 2 ,   RD LCL RD UCL R R 3 4   sB LCL sB UCL s s 4 4   2 ~ ~ ~~ , RAX LCL UCL x x  