Спектральные приборы

80 меридиональной комы. При поиске оптимального варианта проводились исследования аберрационной функции голограммной дифракционной решетки, а потом осуществлялся переход к параметрам нарезной решетки. Многочисленные расчеты различных вариантов схем позволили выявить следующие эмпирические соотношения между конструктивными параметрами этой установки: d = r ( 1,01056 -0,0393 k  ср N ) , ( 106) d ’ 0 = r [ 1,0037 - 0,014 k  ср N + 0,058 ( k  ср N ) 2 ], (107 )  = -0,016 + 0,748 k  ср N , (108)  = -3,34r/ ( k  ср N ) - ( 0,93 + 0,72 k  ср N ) y , (109)  =( 0,012+0,27 k  ср N )/ r , (110)  =(0,037 - 0,163 k  ср N ) / r 2 . (111) Линза, установленная вблизи плоскости регистрации спектра, компенсирует остаточную дефокусировку. Согласно соотношениям (106)-(111) конструктивные элементы схемы и решетки имеют следующие значения: d = 820 мм; d ’ 0 =989,5 мм;  = 21  27  ;  = - 6400 - у ;  = 1,52*10 -4 ;  = -4,8*10 -8 . Оптическая схема спектрографа приведена на рис. 27. С дифракционной решеткой, имеющей радиус кривизны 1000 мм и частоту штрихов 2400 штр/мм, для спектрального диапазона 180...262,5 нм спектрограф обеспечивает обратную линейную дисперсию 0,4 нм/мм. Спектр фокусируется на плоскость и имеет длину 240 мм. Остаточная дефокусировка устраняется плосковогнутой кварцевой линзой с радиусом кривизны 233,5 мм. Аберрации спектрографа с нарезной решеткой, имеющей указанные параметры, приведены в таблице 3. АФ, рассчитанные для входной щели 0,015 мм с шагом 0,003 мм, приведены на рис. 28. АФ для 195 и 217,5 нм рассчитаны для входной щели 0,01 мм с шагом 0,002 мм.