Порошковые технологии

87 модулируют колебания, то такой режим называют динамическим, в противном случае – статическим. Рис. 4.13.Принцип действия атомно-силового микроскопа а) б) Рис.4.14. Прогиб кантилевера в контактном (б) и бесконтактном (а) режимах АСМ В статическом режиме силы взаимодействия между острием иглы и поверхностью образца вызывают отклонение измерительной консоли, изгибая ее до достижения статического равновесия. В процессе сканирования образца происходит сбор информации об отклонениях консоли и формируется набор данных о топографии. Динамические режимы часто называют модуляционными, поскольку в данных режимах к зонду прикладывается осциллирующая сила, заставляющая его совершать вынужденные колебания. Лазер Кантилевер Фотодиод Зеркало Образец Получаемый профиль Образец Образец